相控陣探傷儀的技術優勢有哪些？
發布時間：2020-05-31
相控陣探傷儀通過軟件可以單獨控制相控陣探頭中每個晶片的激發時間，從而控制產生波束的角度、聚焦位置和焦點尺寸。
1.實時彩色成像，包括A/B/C/D和S-掃描，便于缺點判讀，不會誤判或漏判缺點；
2.相控陣技術可以實現線性掃查、扇形掃查和動態深度聚焦，從而同時具備寬波束和多焦點的特性，因此檢測速度可以更快更準；
3、相控陣具有更高的檢測靈活性，可以實現其它常規檢測技術所不能實現的功能，如對復雜工件檢測；
4、容易檢測各種走向、不同位置的缺點，缺點檢出率高，檢測范圍廣，定量、定位精度高；
5、掃查裝置簡單，便于操作和維護；使用更便捷，對人體無傷害，對環境無污染；
6、檢測結果受人為因素影響小，數據便于儲存、管理和調用，以及連接電腦打印查看。也可以直接連接鼠標在儀器上操作。
7、可以節省許多成本費用，一探頭和各角度楔塊的多用處，可以自動生成圖文缺點報告，若有內部網路可以直接發送質檢報告到數據中心查閱。
如今相控陣檢測團隊中的主力成員更加出色！OmniScan 探傷儀曾經憑借其結果可靠、圖像清晰、使用方便等特性脫穎而出，成為全球范圍內便攜式相控陣領域中的標桿性儀器，如今這款儀器又新添了諸如全聚焦方式（TFM）圖像等一些強大的功能，從而可使用戶更加信心十足地完成檢測工作。
如果您以前使用過OmniScan儀器，那么您會對 OmniScanX3探傷儀有一種非常熟悉的感覺：依然保留 了高度便攜的特性和適用于工業環境的堅固外殼，不過其 用戶界面更為簡潔明快、更具現代感。如果您從來沒有用過這種儀器，您會很快發現OmniScan為什么可以成為備受世界各地檢測人員歡迎和信賴的標桿性儀器。
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