一、背景

在運輸行業中，火車運輸發揮著非常大的作用，而火車車輪的質量關系著火車的運行安全。

如今車輪的輪輞已經有成熟且的解決方案：

 

然而輪轂內圈的制造質量卻一直沒有高效的檢測手段，目前檢測手段只有表面檢測。

 

相控陣技術可以快速準確的對輪轂內圈進行檢測

 

二、使用設備

奧林巴斯新設備X3

 

 

使用探頭：多晶片直探頭，一次可進行大面積掃查

 

雙晶探頭，可對進表面區域有較好的靈敏度

 

 

 

三、掃查過程

 

掃查數據：單晶探頭

 

 

 

掃查數據：雙晶探頭

 

 

 

從圖上可以清晰的看出缺陷的大小，深度等信息

 

四、結論

便攜式相控陣技術解決了輪轂內圈的檢測問題。為了評估制造工藝，可以加裝編碼器形成C掃描來判斷缺陷的稠密程度。

可使用單晶和雙晶探頭兩次掃查進行更加準確的評估。